3 幾種常用的篩選項目

　　3 。 1 高溫貯存

　　電子元器件的失效大多數是由于體內和表面的各種物理化學變化所引起，它們與溫度有密切的關系。溫度升高以后，化學反應速度大大加快，失效過程也得到加速。使得有缺陷的元器件能及時暴露，予以剔除。

　　高溫篩選在半導體器件上被廣泛采用，它能有效地剔除具有表面沽污、鍵合不良、氧化層有缺陷等失效機理的器件。通常在最高結溫下貯存2 4 -1 6 8小時。

　　高溫篩選簡單易行，費用不大，在許多元器件上都可以施行。通過高溫貯存以后還可以使元器件的參數性能穩定下來，減少使用中的參數漂移。各種元器件的熱應力和篩選時間要適當選擇，以免產生新的失效機理。

　　3 。 2 功率電老煉

　　篩選時，在熱電應力的共同作用下，能很好地暴露元器件體內和表面的多種潛在缺陷，它是可靠性篩選的一個重要項目。

　　各種電子元器件通常在額定功率條件下老煉幾小時至168小時，有些產品，如集成電路，不能隨便改變條件，但可以采用高溫工作方式來提高工作結溫，達到高應力狀態，各種元器件的電應力要適當選擇，可以等于或稍高于額定條件，但不能引人新的失效機理。功率老煉需要專門的試驗設備，其費用較高，故篩選時間不宜過長。民用產品通常為幾個小時，軍用高可靠產品可選擇 1 0 0 .1 6 8小時，宇航級元器件可以選擇2 4 0小時甚至更長的周期。

　　3 。 3 溫度循環

　　電子產品在使用過程中會遇到不同的環境溫度條件，在熱脹冷縮的應力作用下，熱匹配

　　性能差的元器件就容易失效。溫度循環篩選利用了極端高溫和極端低溫間的熱脹冷縮應力，能有效的剔除有熱性能缺陷的產品。元器件常用的篩選條件是－55 ～＋1 2 5℃，循環5 ～10次。

　　3 。 4 離心加速度

　　離心加速度試驗又稱恒定應力加速度試驗。這項篩選通常在半導體器件上進行，把利用高速旋轉產生的離心力作用于器件上，可以剔除鍵合強度過弱、內引線匹配不良和裝架不良的器件，通常選用20000 g 離心加速度持續試驗一分鐘。

　　3 。 5 監控振動和沖擊

　　在對產品進行振動或沖擊試驗的同時進行電性能的監測常被稱為監控振動或監控沖擊試驗。這項試驗能模擬產品使用過程中的振動、沖擊環境，能有效地剔除瞬時短、斷路等機械結構不良的元器件以及整機中的虛焊等故障。在高可靠繼電器、接插件以及軍用電子設備中，監控振動和沖擊是一項重要的篩選項目。

　　典型的振動條件是： 頻率2 0 ～ 2000 Hz ，加速度2~20 g ，掃描1~ 2周期，在共振點附近要多停留一段時間。典型的沖擊篩選條件是1500^ -3000g ，沖擊3 ~5 次，這項試驗僅適用于元器件。

　　監控振動和沖擊需要專門的試驗設備，費用昂貴，在民用電子產品中一般不采用。

　　除以上篩選項目外，常用的還有粗細檢漏、鏡檢、線性判別篩選、精密篩選等。